3D AOI Kシリーズ

スマートで完璧な
プリント基板を

3D AOI Kシリーズ

スマートで完璧な
プリント基板を

3D AOI Kシリーズ

スマートで完璧な
プリント基板を

ソースで欠陥を阻止する

高度な検査

包括的な検査を行いつつ、誤判定を最小限に抑えます。さらに、高度なアルゴリズム支援により、強力な各種画像ライブラリ内を精査します。3D自動光学検査システム (AOI) Kシリーズを使用すれば、欠陥の見逃しは皆無と言えるでしょう。高精度計測システムにより、シャドー、画像トリミング、基板の反りの影響を排除し、高度に複雑な配列の製品に対しても信頼性の高いデータと高解像度の3Dビジュアライゼーションをお届けします。


主な利点

  • 強力な
    3D AOI
  • 完全な
    テスト範囲
  • 高精度
    の光学計測

完璧な基板への第一歩

完璧なプリント基板への第一歩は、品質検査データの良し悪しにかかっています。独自のシャドーフリー3D検査と2Dテクスチャ表示を組み合わせた当社のKシリーズシステムなら、部品本体とはんだ付けの包括的な検査が行えます。リフロー前とリフロー後の両方の検査にに対し測定可能なKシリーズで、部品の誤実装、リードの剥がれ、部品立ちなどの欠陥を検出、防止できます。

誤判定を低率に抑えて継続的な改善を

業界公認のLibrary Pro欠陥画像バンクを併用するKシリーズは、プログラミングも簡単で、最小限の微調整で優れた性能を発揮できます。プロセスや素材にかかわらず、99.5%を超えるアップタイムレベルを誇るKシリーズなら、誤判定や検査漏れを大幅に低減できます。こうしたインテリジェントなソフトウェアと比類のない安定生産の組み合わせにより、どんなに厳しい生産環境でも製品を継続的に改善できます。

完全に統合されたプロセス制御

最良の検査データにも、スマートな情報管理は不可欠です。そのような場面で活躍するのが、業界をリードする当社のSIGMA Linkソフトウェアパッケージです。はんだペースト検査 (SPI) と自動光学検査 (AOI) の統合データを提供し、リアルタイムでのプロセス表示、欠陥画像の迅速な精査、即座の是正措置実施が可能となります。その結果、データベース間の比較に費やす時間を減らして、各欠陥の原因究明に集中できます。このように当社では、お客様があらゆる現場で生産量、品質、再現性を高め、完璧に一歩近づくお手伝いをしています。


パンフレット


お客様のベストパートナーとして

マイクロニックはエレクトロニクス業界で40年以上の歴史を持ち、独自のマーケットリーダーとしての地位を築くことができました。市場の急速な変化を把握し、50カ国以上でお客様を支援するための強力な地域地盤を持っています。マイクロニックは、将来を保証するテクノロジーを、与えられた使命とともに心をこめてお客様にご提供します。


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