K 시리즈 3D AOI

완벽한 PCB품질에
도달하기 위한 가장
손쉬운 방법

K 시리즈 3D AOI

완벽한 PCB품질에
도달하기 위한 가장
손쉬운 방법

K 시리즈 3D AOI

완벽한 PCB품질에
도달하기 위한 가장
손쉬운 방법

결함을 원천에서부터

방지하는 진보된 검사

광범위한 테스트 커버리지를 보장합니다. 가성불량 발생을 최소화합니다. 또한 진보된 알고리즘 지원을 통해 강력한 이미지 라이브러리 도구로 공정 결함을 쉽게 파악할 수 있습니다. K 시리즈 3D 자동 광학 검사 시스템을 이용하면 사실상 발견하지 못하는 결함이 거의 없습니다. 고정밀 측정 시스템은 섀도우, 이미지 자르기 및 PCB 휨을 제거하여 가장 복잡한 제품 형상에서도 신뢰할 수 있는 데이터와 고해상도 3D 데이터를 제공합니다.


특장점

  • 강력한
    3D AOI
  • 완벽한
    테스트 커버리지
  • 정밀한
    광학 계측

완벽한 PCB 품질이 한걸음 더 가까이

완벽한 PCB 품질을 향한 여정에서 모든 것은 품질 검사 데이터에서 비롯됩니다. 당사의 K 시리즈 시스템은 2D 텍스처와 독자적인 섀도우 프리 3D 검사를 결합함으로써 포괄적인 부품 몸체 및 솔더 조인트 테스트를 제공합니다. 즉, 리플로우 전 후로 검사 확장이 가능한 솔루션을 통해 위치가 잘못된 부품, 솔더링 불량, 툼스톤(tombstone) 등의 결함을 감지하고 방지할 수 있습니다.

가성불량율을 낮추고 지속적인 개선

업계 인증 Library Pro 결함 이미지 뱅크와 결합된 K 시리즈는 프로그래밍이 용이하며 뛰어난 성능 수준에 도달하기 위해 최소한의 미세 조정만 필요합니다. 사용하는 공정이나 재료에 관계없이 99.5% 이상의 가동 시간을 유지하여 가성불량과 불량 리스크을 크게 줄일 수 있습니다. 이렇듯 지능형 소프트웨어와 최고의 생산 안정성이 결합되어 가장 까다로운 생산 환경에서도 지속적인 제품 품질향상이 가능합니다.

완벽하게 통합된 프로세스 제어

물론 정확한 검사 데이터도 스마트한 정보 관리가 요구됩니다. 업계를 선도하는 SIGMA Link 소프트웨어 제품군이 필요한 이유가 이것입니다. SPI와AOI데이터의 통합관리를 제공하여 실시간으로 공정을 확인하고 결함 이미지를 통한 신속한 공정 결함 파악으로 즉각적인 시정 조치를 취할 수 있습니다. 결과적으로 SPI와 AOI 측정 결과 상관 관계를 파악하는 데 소요되는 시간을 줄이고 불량 분석에 더 많은 시간을 할애할 수 있습니다. 이 모든 것은 매 작업별로 수율, 품질 및 재현성을 높이고 완벽에 한 걸음 더 가까이 다가가도록 돕기 위한 노력의 일환입니다.


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전자 산업분야에서 40년 이상 동안 시장의 독보적인 선두주자로서 자리매김 해왔습니다. 저희는 시장의 빠른 변화를 이해하고 최상의 고객 지원을 위하여 50개국에 걸쳐 지사와 대리점을 운영하고 있습니다.  저희는 고객과 저희의 사명을 이룰 수 있고 미래에도 경쟁력을 갖춘 기술을 제공합니다.


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